瑞芯微获得发明专利授权：“一种IO静态参数测试方法及系统”_科技资讯

瑞芯微获得发明专利授权：“一种IO静态参数测试方法及系统”

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2024-06-11 01:00:57

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证券之星消息，根据企查查数据显示瑞芯微（603893）新获得一项发明专利授权，专利名为“一种IO静态参数测试方法及系统”，专利申请号为CN202111114611.5，授权日为2024年6月7日。

专利摘要：本发明公开了一种IO静态参数测试方法及系统，选择电源通道，通过引线连接电源通道和待测芯片的待测IO口，并根据待测IO口为每一个待测芯片配置对应的IO寄存器配置表，因此仅需为每个芯片配置IO配置文件即可实现IO测试；控制IO测试板对待测IO口依次进行预设测试，根据预设测试的每一个测试项配置待测芯片的IO状态，并将测试项所需的供电数据发送至电源通道，从而为待测芯片供电，并使用电源通道中的采样电路采集待测IO口的参数，得到每个待测IO口在每个测试项中的静态参数，相较于现有技术中的专用IO测试机，仅需要为芯片配置对应的IO寄存器配置表和预设测试内容，开发成本低且提高了静态参数的测试效率。

今年以来瑞芯微新获得专利授权17个，较去年同期增加了112.5%。结合公司2023年年报财务数据，2023年公司在研发方面投入了5.36亿元，同比增0.17%。

数据来源：企查查

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