上海太易申请双能 X 光图像融合专利，提高图像融合质量_科技资讯

上海太易申请双能 X 光图像融合专利，提高图像融合质量

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2025-05-15 10:21:10

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金融界 2025 年 5 月 14 日消息，国家知识产权局信息显示，上海太易检测技术有限公司申请一项名为“双能 X 光图像融合方法、装置、计算机设备及存储介质”的专利，公开号 CN119991472A，申请日期为 2025 年 4 月。

专利摘要显示，本申请涉及一种双能 X 光图像融合方法、装置、计算机设备及存储介质，该方法包括获取 X 光低能图像和 X 光高能图像；采用扩大感受野的卷积方式分别对 X 光低能图像和 X 光高能图像进行卷积，生成卷积特征图，并对卷积特征图进行融合，得到初步融合特征图；通过多元注意力机制对初步融合特征图进行增强处理，以强化融合特征表示的互补信息表达，进而得到增强特征；通过膨胀卷积层对增强特征进行特征提取，得到卷积输出特征，进而对卷积输出特征执行通道调整和格式还原处理，以生成最终融合图像。本申请具有提高图像融合质量的效果。

天眼查资料显示，上海太易检测技术有限公司，成立于2008年，位于上海市，是一家以从事专业技术服务业为主的企业。企业注册资本2700万人民币。通过天眼查大数据分析，上海太易检测技术有限公司共对外投资了2家企业，参与招投标项目44次，财产线索方面有商标信息30条，专利信息91条，此外企业还拥有行政许可21个。

来源：金融界

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